Dabartinė grandinės plokštės technologijos būsena

Vidiniai spausdintinių plokščių automatinio tikrinimo sistemos tyrimai pradėti {{0}}-ųjų pradžioje ir viduryje, ir jie tik prasidėjo. Šiuo tyrimu užsiima palyginti nedaug mokslinių tyrimų institutų, o dėl įvairių veiksnių įtakos automatinės optinės spausdintinių plokščių defektų tikrinimo sistemos tyrimai taip pat yra gana ankstyvame lygyje. Būtent todėl, kad užsienio spausdintinių plokščių automatinio aptikimo sistema yra per brangi, o Kinijoje nėra tikros automatinės spausdintinių plokščių aptikimo įrangos, todėl dauguma vietinių plokščių gamintojų vis dar naudoja rankinius didinamuosius stiklus ar projektorius. būdas patikrinti. Dėl didelio rankų apžiūros darbo intensyvumo akys yra linkusios pavargti, o praleistų patikrinimų dažnis yra labai didelis. Be to, elektroniniams gaminiams tobulinant miniatiūrizavimą ir skaitmeninimą, spausdintinės plokštės taip pat vystosi link didelio tankio ir didelio tikslumo, o rankinio tikrinimo metodų iš esmės neįmanoma pasiekti. Didesnio tankio ir tikslesnių grandinių plokščių (0,12–0,10 mm) išbandyti buvo visiškai neįmanoma. Bandymo metodų atsilikimas lėmė, kad dabartinis vidaus gaminių kelių sluoksnių plokščių (8-12 sluoksnių) kvalifikacijos rodiklis yra tik 50-60 proc.